地質調査総合センター研究資料集、 no. 624

蛍光X線分析装置（地質調査総合センター鉱物資源研究グループ設置）による岩石化学分析の精度と測定限界
The accuracy and determination limits of rock chemical analysis by X-ray fluorescence spectrometry at Mineral Resources Research Group, Geological Survey of Japan

森田沙綾香^*1・高木哲一^*1・昆慶明^*1・荒岡大輔^*1

^*1国立研究開発法人産業技術総合研究所地質調査総合センター地圏資源環境研究部門鉱物資源研究グループ

内容紹介：

地質調査総合センター地圏資源環境研究部門鉱物資源研究グループに設置されている蛍光X線分析装置(RIGAKU ZSX Primus III+)について、各種岩石標準試料、試薬などを用いて3種類の検量線（岩石主成分用、高シリカ岩用、岩石微量成分用）を作成した。岩石主成分用と高シリカ岩用は、融剤により10倍に希釈したガラスビードを、岩石微量成分用は圧縮パウダーペレットを用いた。それぞれの検量線による定量分析について、分析精度および測定限界を示す。

この研究資料集のCD-ROMに収められた内容は、こちらから閲覧することができます(460KB)

受理日：2016年2月3日

引用例：

森田沙綾香・高木哲一・昆慶明・荒岡大輔(2016) 蛍光X線分析装置（地質調査総合センター鉱物資源研究グループ設置）による岩石化学分析の精度と測定限界．地質調査総合センター研究資料集，no. 624, 産業技術総合研究所地質調査総合センター．