粒子径分布測定法セミナー

趣旨

粒子径分布は様々な素材や製品の特徴を評価する上で重要なデータとなっています。産業技術総合研究所地質調査総合センターでは、地質調査所以来、砂や泥をはじめ地質試料の粒度分析を、古典的な篩分級法、沈降法またレーザー回折散乱法、もしくはこれらを併用して行ってきた実績があります。

この度、平成２０年度共通機器利用体制整備に関わる予算を用いて新たに画像解析式粒子径測定装置を整備しました。この機会に地質調査総合センターでは、その革新的な分析手法を各位に分かりやすく紹介し、これにあわせてミリメートルからナノメートルまでの各種粒子径測定法の課題を総合的に解説する技術セミナーを企画しました。

概要

日時	平成21年１月23日(金)
会場	産業技術総合研究所つくばセンター 第７事業所　第２会議室（７－３　C211室）
主催	日本地球掘削科学コンソーシアム(J-DESC)
お申込み方法	申込は終了しています。

プログラム

司会　地質調査総合センター　古川　敏之

13:15-13:20	セミナー開催挨拶 産総研フェロー　加藤　碩一
13:20-13:40	粒子径分布測定法の概要 地質情報研究部門　小笠原　正継
13:40-14:00	ナノスケール粒子の粒子径分布測定法：動的光散乱法および小角X線散乱法 地圏資源環境研究部門　鈴木　正哉
14:00-14:40	Digital image processing particle size and shape analysis system Retsch Technology Joerg Westermann
14:40-14:50	コーヒーブレイク
14:50-15:30	レーザー回折/散乱法の原理・特徴と最新技術 堀場製作所　伊串　達夫
15:30-15:50	沈降天秤法を用いた粒度分布測定法とその実例 地質情報研究部門　七山　太
15:50-16:00	質疑応答
16:00-17:00	所内実験室見学及びデモンストレーション (1)　デジタル画像式およびレーザー回折/散乱式粒子径測定実験室見学 地質情報研究部門　小松原　純子 (2)　レーザ回折/散乱式、篩分級式および沈降天秤法粒度分布測定実験室見学 地質情報研究部門　野田　篤・田村　亨 （３）　レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置操作法およびデモンストレーション 堀場製作所　伊串　達夫 ※参加者が多い場合は3グループに分かれていただき、実験室見学を交代で行います。